1. 서 론
전자 산업의 발전과 더불어 다양한 종류의 전기 전도성 접착제 (electrically conductive adhesives)가 주목을 받고 있다. 전기 전도성 접착제는 기본적으로 전도성 필러와 절연성의 고분자 매트릭스로 구 성되어 있다. 전도성 필러로는 금, 은, 알루미늄, 구리 등과 같은 금속 [1,2] 및 탄소 섬유[3], 그래파이트/그래핀[4,5] 등과 같은 탄소계 물질 이 주로 사용되고 있으며, 최근에는 세라믹 계열의 물질들도 응용되 고 있다[6].
금속 필러로는 전기적/열적 특성이 좋고 화학적으로 안정한 귀금속 이 가장 적합하지만 가격이 비싸다는 단점이 있으며, Ni은 상대적으 로 전기적 특성이 떨어지고, 구리(copper, Cu)는 산화에 취약하다는 문제점이 있다. 따라서 Cu의 산화(부식)를 막기 위한 다양한 물질들에 대한 연구가 많다. 대표적으로는 azole 화합물[7], 아민[8] 및 thiol 화 합물을 통한 self-assembled[9] 방식에 의하여 Cu의 산화를 방지하고 자 하는 다양한 방법들이 있으나, 이와 같이 절연성의 유기물질로 표 면을 개질하는 경우에는 지나치면 구리의 전기적 특성을 심하게 저하 시키고, 부족하면 구리의 산화를 억제하기 힘들다는 본질적인 문제점 을 갖고 있다.
따라서 실제적으로는 Cu의 표면에 미량의 은(silver, Ag)을 코팅한 silver-coated copper (Ag@Cu)가 일반적으로 사용되고 있다. 예를 들 면, 일반 copper의 경우에는 100 °C에서도 급격하게 저항치가 상승하 지만, Ag를 15 w/w% 코팅한 Cu를 에폭시 계열의 접착제에 20 vol% 첨가한 경우에는 200 °C에서 2시간 정도는 전기적 특성을 거의 잃지 않는 것으로 나타났다[10]. 그 이후로 Ag@Cu에 관한 다양한 연구가 진행되어, 접착제에 가해지는 압력에 따른 전기적 특성의 변화에 관 한 연구[11] 및 은의 함량과 도금 공정 등에 따라서 표면에서의 Ag의 분포도에 차이가 있으며 이 차이가 산화도에 직접적으로 영향을 입힌 다는 사실[12] 등이 밝혀졌다. 이와 같은 연구 결과를 바탕으로 에폭 시 수지에서의 Ag@Cu의 거동에 관한 분석 화학적 고찰도 이루어졌 으며[13], 현재는 다양한 그레이드의 제품들이 판매되고 있다. 또한 이와 같은 Ag@Cu들이 실제적으로 적용되었을 때의 특성들에 관하여 잘 정리된 review 논문[14]이 최근에 발표되어 있다. 그러나 Ag의 가 격이 급격하게 상승하고 있어서 상업적인 측면에서는 Ag의 함량을 줄이면서 효율적인 열적특성을 나타내는 Ag@Cu의 필요성이 대두되 고 있다.
한편, 매우 높은 융점(960 °C)를 갖는 Ag는 나노입자화에 의해 200 °C 근처에서 소성을 시킬 수 있으며[15], 최근에는 상온에서 소성이 가능한 Ag 나노입자를 이용한 잉크에 대한 연구도 보고되어 있다[16]. 따라서 본 연구에서는 Ag의 일부분은 구리 표면에 코팅이 되고 일부 분은 나노입자 형태로 구리에 붙어있는 Ag@Cu를 제조하여 그의 특성 을 비교하고자 하였다. 구체적으로는 상용품인 덴드라이트(dendrite) 형태의 구리 입자의 표면을 은으로 무전해 도금을 하는 과정에서 아 래와 같은 2가지 방식을 병용하였다. 즉, 구리 입자의 표면을 균일하 게 코팅하는 일반적인 방법(치환도금, displacement plating)[17-19]과 질산은의 환원반응을 이용하여 도금하는 방법(화학환원도금, reducing electroless plating or chemical resuction method)[20-22]을 병용하여 치환도금과 환원도금의 비가 다른 다양한 Ag@Cu를 제조하였다. 이 들 Ag@Cu의 열적 특성은 TGA로, 화학적 구조는 XPS, XRD로, 형상 은 SEM-EDS를 통하여 분석하고, 에폭시 수지와의 복합화를 통하여 전도성 필름을 제조하고 그의 열적 특성을 평가하였다.
2. 실 험
2.1. 시약
옥살산(oxalic acid), 에틸렌디아민 테트라아세트산(ethylenediamine tetraacetic acid), 질산은(silver nitrate) 및 올레산(oleic acid) 등은 시그마 알드리치로부터 구입하였다. 도전성 필름 제조 시, 에폭시 수지로는 국도화학의 YDPN 644 (epoxy equivalent weight = 195~235 g/eq)를, 경화제로는 무수프탈산 계열인 국도화학의 MNA를 사용하였다. 희석 제로 사용된 톨루엔은 대정화금사 99.5% 순도인 것을 이용하였다.
2.2. Ag@Cu의 제조
본 연구의 시작물질에 해당하는 dendrite 형태의 Cu는 GGP Metalpowder AG사의 Cu CH-L7이다. 본 연구에서는 구리 대비 은의 함량을 7 wt%로 고정하고 치환도금과 환원도금을 병행하여 Ag로 코 팅하였다. 먼저 치환도금으로만 은의 함량이 7 wt%가 되도록 코팅한 Ag@Cu (이하 Ag@Cu-7000으로 약칭함)는 아래와 같이 제조하였다.
구리 분말 100 g을 0.3% 암모니아수 1 L에 넣고 20분 교반한 후에, 옥살산 산성액과 에틸렌디아민 테트라아세트산 희석액을 사용하여 중화시킨다. 30 °C에서 이 반응액에 질산은 5% 용액을 분당 4 mL 씩 총 240 mL을 주입하면서 천천히 교반하면서 무전해 치환도금을 진행 한다. 이후에 증류수로 3회 충분히 세척하고, 올레산의 농도가 0.5% 가 되도록 제조한 에탄올 용액 500 g을 넣어 상온에서 30분간 교반한 다. 여과하여 Ag@Cu 입자를 회수하고 50 °C에서 진공 건조하였다.
구리 대비 은의 함량은 7 wt%로 일정하지만 치환도금에 의하여 4 wt% 가, 환원반응에 의하여 3 wt%의 은이 도금된 Ag@Cu (Ag@Cu-4030)는 아래와 같이 2단계 반응으로 제조하였다.
먼저 1단계 반응인 치환도금을 위해서, 구리 분말 100 g을 0.3% 암 모니아수 1 L에 넣고 20분 교반한 후에, 옥살산과 에틸렌디아민 테트 라아세트산 희석액을 사용하여 중화시킨다. 30 °C에서 이 반응액에 질산은 5% 용액을 분당 4 mL의 속도로 총 137 mL을 주입하면서 천 천히 교반하여 무전해 은 치환도금을 완료한다. 2단계 반응인 환원반 응은, 상기 분산액에 암모니아수를 10%로 희석한 액 20 mL를 넣고 다시 질산은 5% 용액을 분당 10 mL의 속도로 총 103 mL를 주입하고 천천히 교반하면서 황산 1% 수용액을 추가하여 진행한다. 이와 같이 산성 환경에서 50 °C에서 30분간 교반하면서 착화합물 상태인 은을 환원시켜 도금한다. 이후에 증류수로 3회 충분히 세척한 후에, 올레산 의 농도가 0.5%가 되도록 제조한 에탄올 용액 500 g을 넣어 상온에서 30분간 교반한다. 여과하여 Ag@Cu 입자를 회수하고 50 °C에서 진공 건조한다.
본 연구에서 사용한 다른 Ag@Cu도 상기와 동일한 방식에 의하여 제조하였으나, Ag@Cu-3535는 5%의 질산은을 1단계인 치환도금에서 120 mL를, 2단계인 환원반응에서도 120 mL를 사용하였으며, Ag@Cu- 3040은 5%의 질산은을 1단계에서 103 mL, 2단계에서 137 mL을 사 용하였다.
2.3. Ag@Cu가 분산된 에폭시 수지 필름 제조 및 열적 특성 평가
개질된 Ag@Cu 입자 62 g을 20 g의 에폭시 수지, 1.2 g의 경화제 및 50 g의 톨루엔과 섞고 500 rpm으로 2분 동안 교반한 뒤에 3분간 진공 탈포를 하여 도전성 페이스트를 제조하였다. 제조된 도전성 페 이스트를 폴리이미드 필름 위에 10번 Mayer bar coater (습도막 두께 기준으로 22.9 μm)를 사용하여 코팅하고 100 °C에서 2분간 건조시켰다.
상기와 같이 제조한 도전성 필름의 열적 특성은 공인 시험 방법에 따라서 평가하였다. 실제 현장에서 납땜 공정 시와 유사한 조건 하에 서 열적 안정성을 평가하는 방법인 “표면 실장 부품(Surface Mounted Device)의 납땜성, 전극의 납땜 내성, 납땜의 먹힘성 및 납땜 내열성 시험 방법”(KS C 0287)에 따라서 평가를 진행하였다. 즉, 상기에서 가 로 7 cm, 세로 1 cm로 자른 도전성 필름을 시험용 회로쿠폰에 160 °C, 10 kgf 압력으로 1시간 동안 경화, 합지시켰다. 이후, 5 cm 간격의 초기 선저항(linear resistance)값을 측정하고, 260 °C 납땜조에 상기 시 편을 10초간 띄우고 상온에서 10분간 냉각한 후 5 cm 간격의 선저항 을 측정하였다. 이와 같은 열처리를 3회 반복하면서 선저항의 변화를 기록하였다.
2.4. 분석
Ag@Cu 입자의 형태학적 분석 및 물리화학적 특성의 분석을 위하여 SEM (FEI, Apreo), SEM-EDS (FEI, Apreo), XPS (K-Alpha, Thermo Electron) XRD (ARL Equinox 3000, Thermo Fisher Scientific) 및 TGA (TGA 4000, Perkin Elmer) 등을 이용하였다. SEM-EDS 분석은 5 kV에서 3분간 측정하였으며, SEM 분석은 low-energy secondary electron detector (T3)를 사용하였다. Ag@Cu의 산화 상태를 관찰하기 위하여 질소 주입을 하지 않은 상태에서 TGA를 측정하였으며, 상온 에서 600 °C까지 승온 속도 10 °C/min, 질소 유량 50 mL/min으로 분 석하였다. Ag@Cu 입자들의 비표면적은 BET 표면분석기(ASAP2020, Micromeritics Instrument Co., Norcross, GA)를 사용하여 분석하였으 며, 모든 샘플들은 측정 전에 300 °C에서 6시간 열처리하고 각 샘플당 3 g을 사용하여 분석하였다. 상기 분석들은 수원대학교의 신소재융합 기기분석센터 소속 기자재들을 사용하여 수행하였다.
Ag@Cu 입자의 에폭시 수지 내에서 분산 상태는 조도측정기 (Mitutoyo Surftest, Tokyo, Japan)를 사용하여 측정하였으며, Ra 및 Rz 로 나타나는 표면 조도값으로 평가하였다.
3. 결과 및 고찰
3.1. Ag@Cu 입자의 특성 및 분석
일반적으로 구리의 표면을 은으로 코팅하는 방식은 치환도금으로 서 표면에 고르게 코팅을 하게 되며, 환원반응 방식으로는 표면에 작 은 입자가 형성되게 된다. 본 연구에서는 구리 대비 은의 함량을 7 wt%로 고정하고 2가지 방식의 비를 변화시켜서 제조하였다. 먼저 은 의 함량은 7 wt%이지만 치환방식으로만 제조한 Ag@Cu-7000을 기준 으로 하여, 치환방식으로 제조된 은(이하 Agdis로 약함)의 함량을 줄이 고 그만큼 환원방식 은(Agred)의 함량을 늘리면서 3종류의 Ag@Cu를 제조하였다. 기본적으로 Cu의 산화를 막기 위하여 Cu 표면을 어느 정 도 코팅하기는 해야 하므로 Agdis의 함량을 최소한 3%로 유지하였으 며, 각각의 Ag@Cu의 조성을 Table 1에 정리하였다.
상기 Ag@Cu의 표면 형상을 파악하기 위하여 SEM-EDS를 측정하 였으며 그 결과를 Figure 1에 나타내었다. Figure 1의 (a)에 나타낸 Cu 는 덴드라이트 특유의 돌기 형태이며, 장축이 약 8 μm 정도인 것을 알 수 있다. 이후에 Ag를 코팅한 4종류의 Ag@Cu의 사진도 함께 나 타내었으나 형상적으로는 큰 차이를 발견할 수 없었다. 한편 표면의 화학적 조성을 측정한 spot의 EDS 결과에서 Ag와 Cu의 비를 Figure 1에 함께 나타내었다. 먼저, (a)에 나타낸 Cu에서는 당연하게 Cu만 나 타났으며, 4종류의 Ag@Cu에서는 Ag/Cu 값이 0.9에서 3.2까지의 분 포를 나타내었다. 기본적으로 EDS의 결과가 정량성이 떨어진다고는 하지만, 본 연구에서 제조한 4종류의 Ag@Cu는 전체적으로 표면이 Ag로 코팅되어 있다는 것을 알 수 있다. 단지 이 값은 표면 돌기 부분 과 돌기가 아닌 부분에서 일관성 있는 차이는 발견되지 않았다. 이 그 림에는 포함하지 않았으나 함께 측정하였던 다른 결과에서도, 표면의 형상 차이에 따른 Ag/Cu 값의 의미 있는 변화는 관측할 수 없었으며 또한 치환/환원 도금의 차이에 따른 변화도 관찰할 수 없었다.
한편 T3 detector를 사용하여 좀 더 세밀하게 측정한 SEM 사진을 Figure 2에 나타내었다. 먼저, (a)에 나타낸 Cu에서는 표면에 아주 작은 입자들이 존재하는 것으로 나타났다. 앞에서 언급한 EDS 결과에 의 하면 이는 Cu인 것은 확실하며 본 연구에서 사용한 Cu 입자가 원래부터 포함하고 있는 미세 입자이다. 그러나 치환도금만을 한 Ag@Cu-7000 에서는 이와 같은 입자가 보이지 않아서, Ag로 표면이 덮였고 따라서 Cu에서 보이던 미세 입자의 형상도 나타나지 않은 것으로 판단된다. 그러나 환원도금도 함께 실시한 Ag@Cu-4030에서는 (c)에 나타낸 바 와 같이 수십 나노미터의 입자들이 나타났다. 이는 원재료로 사용하 였던 Cu에서 나타나는 미세입자보다는 확실하게 크며 형상 자체도 명 확하게 다름을 알 수 있으며. 나머지 2종류의 Ag@Cu에서도 동일한 결과가 나타났다. 즉 Ag@Cu-7000에서는 이 입자가 나타나지 않았다 는 점과 Ag@Cu의 표면이 전체적으로 Ag로 구성되어 있다는 EDS의 결과를 함께 고려하면, 이 수십 나노미터의 입자는 환원도금에 의하 여 형성된 Ag 나노입자라는 것을 알 수 있다.
한편 이와 같은 형상의 차이는 입자의 표면적에도 변화를 줄 수 있 으므로 BET 방식에 의하여 Ag@Cu들의 표면적을 비교하여 Table 1 에 정리하였다. 먼저 BET 측정은 외부 압력 변화에 따른 질소 가스의 흡착량을 측정하여 비표면적을 구하는 원리인데, 외부 압력과 흡착되 는 질소 가스의 양과의 상관관계(Correlation coefficient)가 이론적으 로는 1이어야 한다. 그러나 일반적으로 0.999 이상이면 신뢰성 있는 분석이 이루어진 것으로 인정하는데, 본 분석에서는 이 값이 모두 0.9999 이상으로 나와서 신뢰성 높은 데이터가 얻어졌다고 할 수 있 다. Table 1의 비표면적 값을 비교하여 보면, 먼저 치환도금만으로 이 루어진 Ag@Cu-7000의 비표면적은 Cu보다도 작은 것으로 나타났다. 이는 치환 은의 코팅에 의하여 Cu 입자 표면이 더 평평해졌기 때문으 로 판단된다. 실제적으로 Figure 2의 (b)를 보면 Ag@Cu-7000의 표면 이 매우 매끄러운 것을 알 수 있다. 반면에 환원 도금도 동시에 실시 한 Ag@Cu에서는 다시 표면적이 넓어지는 것이 확실하게 나타났다. 이는 Figure 2의 (c), (d) 및 (e) 사진에서 명확하게 알 수 있듯이 환원 은이 나노입자로 표면에 존재하기 때문으로 판단된다. 또한 환원 은 의 상대적인 양이 늘어날수록, 즉 Ag@Cu-4030에서 Ag@Cu-3040으 로 갈수록 표면적이 커지는 것으로 나타나서 나노입자 형태인 환원 은의 비중이 높아진 것을 간접적으로 확인할 수 있었다.
Ag@Cu 입자들과 같이 공기 중에서 산화가 일어나는 금속들의 산 화 정도를 평가하는 가장 일반적인 방법은 TGA에 의해서 중량 증가 를 측정하는 방법이다[23,24]. 본 연구에서도 질소 주입을 하지 않으 면서 동일한 방법으로 TGA를 분석하여 산화 정도를 검토하여 보았 다. Figure 3에서 알 수 있듯이, 산소 존재 하에서는 모든 샘플에서 온 도가 올라감에 따라 중량이 늘어나는 것으로 나타나, 산화가 일어나 는 것을 확인할 수 있었다. 먼저, 은으로 도금하지 않은 Cu의 경우에 는 온도의 상승에 따라 중량이 급격하게 증가하는 것이 나타나서 100 °C 이상에서 산화가 용이하게 일어났으나, Ag@Cu 경우에는 중량 증 가 속도가 현저하게 줄어든 것을 알 수 있다. Ag@Cu와 관련된 기존 연구의 경우에는 사용하는 금속에 따라 약간의 차이가 있으나, 400 °C에서 약 7% 정도의 중량 증가[10] 또는 9~10% 정도의 중량 증가 [24]를 나타내었다. 본 연구에서 제조한 4종류의 Ag@Cu 입자들은 Table 1에 기입한 것과 같이 400 °C에서의 중량 증가폭이 약 9%에서 11% 정도인 것으로 관찰되어 기존의 논문과 거의 일치하는 것을 알 수 있다.
Ag@Cu의 화학적 성분의 특성을 분석하기 위하여 XPS 및 XRD 분 석을 수행하였다. 먼저 Figure 4의 (a)에 나타낸 Cu의 XPS 피이크를 보면, metallic Cu의 전형적인 Cu2p3/2와 Cu2p1/2에 해당하는 피이크가 각각 931.8 eV 및 951.5 eV에 크게 나타났으며 이와 함께 942.8 및 961.5 eV에 broad한 피이크가 나타났다. 이와 같이 4개의 피이크로 나 타나는 것은 부분적으로 산화된 Cu의 전형적인 XPS 스펙트럼으로 알 려져 있다.[25] 한편 Ag@Cu에서는 metallic Cu의 전형적인 피이크 2 개만 관찰되었으며, 또한 피이크의 강도가 매우 약하게 나타났다. 이 는 Cu의 표면을 Ag로 코팅을 하여서 Cu의 피이크 자체가 매우 약하 게 나온 것으로 판단된다, 한편, Figure 4의 (b)에 나타낸 Ag의 XPS 피이크를 보면, Ag@Cu에서만 전형적인 Ag3d 피이크가 나타났으나, 4종류의 Ag@Cu는 거의 동일한 결과를 나타내었다.
각각의 금속 입자 중의 Ag 및 Cu의 결정구조를 분석하기 위하여 측정한 XRD 결과를 Figure 5에 나타내었다. 모든 샘플들에서 Cu의 결정구조에 의한 피이크가 우선적으로 나타났으며, Ag로 코팅한 Ag@Cu에서는 Ag에 의한 피이크가 약하게 나타나는 것으로 알 수 있 었으며, 이는 기존에 알려져 있는 Ag@Cu들에서 발견되는 XRD 스펙 트럼과 일치한다[26,27]. 그러나 XPS 분석과 마찬가지로 XRD 분석에 서도 Ag의 코팅방식이 서로 다른 4종류의 Ag@Cu 사이에서 의미 있 는 차이는 발견되지 않았다.
3.2. Ag@Cu 입자가 분산된 에폭시 수지 필름의 열적 특성 평가
4종류의 Ag@Cu를 도전성 접착제용 에폭시 수지에 분산시켜 도전 성 필름을 제조한 후에 표면 조도를 측정하여 Ag@Cu의 분산 정도를 간접적으로 평가하였다. 표면 조도의 표현 방법은 다양한데, 일반적으 로 Ra값과 Rz값이 가장 많이 사용된다. 측정 길이 내의 평균선에서부 터 측정된 모든 절대 거리를 산술 평균으로 계산한 표면 조도 값이 Ra이고, 측정 길이 내의 음수의 최솟값과 양수의 최댓값 각각 다섯 점 을 합한 표면 조도 값이 Rz다[28]. 본 연구에서는 가로 7 cm × 세로 1 cm 크기의 필름의 5군데의 Ra값과 Rz값을 측정하여 그의 평균값과 표준편차를 Table 2에 정리하였다. 모든 Ag@Cu에서는 비슷한 값의 조도가 측정되었으며, Ra값은 약 2.7 μm정도, Rz값은 약 16.3 μm로 나타났다. 본 연구에서 사용한 에폭시 수지와 동일한 에폭시 수지를 사용하여 표면개질하지 않은 Ag@Cu를 분산시킨 필름에서는 Ra값이 2.043 μm, Rz값은 13.459 μm로 나타났었다.[29] 실제적으로는 실험 방식에 다양한 차이가 있으므로 직접적인 비교를 할 수는 없지만, 본 연구에서도 유사한 값이 나왔다. 한편, 4종류의 Ag@Cu 사이에서 표 면 조도 값에 의미 있는 차이가 없다는 것은 은의 도금 방식이 에폭시 수지와의 상용성에 미치는 영향이 없다는 의미로 해석할 수 있다.
이와 같이 제조한 필름의 열적 안정성을 검토하였다. 본 연구에서 는 실제적으로 현장에서 적용되는 납땜 조건에서의 적용 가능성을 확 인하기 위하여, KS에서 규정한 “표면 실장 부품(Surface Mounted Device)의 납땜성, 전극의 납땜 내성, 납땜의 먹힘성 및 납땜 내열성 시험 방법”에 따라서 평가하고 그 결과를 Figure 6에 나타내었다. 본 실험은 경화된 필름을 260 °C에서 10초간 처리하고 상온에서 선저항 을 측정한 후, 동일한 열처리를 3회 반복하면서 필름의 선저항을 측정 하는 방법이다. 본 실험에서는 5개의 필름을 동일한 방법으로 측정하 여 평균값 및 표준편차값을 Figure 6에 함께 나타내었다. 또한 Ag로 코팅하지 않은 Cu 입자는 너무나도 급격하게 산화가 일어나기 때문에 본 실험에는 적용하지도 않았다.
먼저, 본 연구에서 제조한 Ag@Cu 중에 치환 은의 함량이 가장 적 은 Ag@Cu-3040의 경우 초기저항 뿐만 아니라 260 °C에서 10초간 열 처리하는 실험을 3회 반복한 후의 저항 값도 가장 높게 나왔다. 또한 표준편차 값도 상대적으로 현저하게 크게 나와서 입자 표면의 산화가 매우 불균일하게 일어났다는 것을 나타낸다. 즉, 치환도금은 구리 입 자 표면에 고르게 코팅되는 방식인데, 3.0 wt%의 함량으로는 표면을 덮기에는 충분하지 않았기 때문으로 이해된다. 한편 치환 은의 함량 이 3.5 wt%인 Ag@Cu-3535의 경우에는 초기 저항이 낮게 나오며, Ag@Cu-4030 뿐만 아니라 치환도금으로만 이루어진 Ag@Cu-7000과 도 실험 오차 이내에서 동일한 저항치를 나타내었다. 이 결과는 치환 은의 함량이 3.5 wt%가 되면 구리 입자의 표면을 덮을 수 있다는 점 을 시사하고 있다. 그러나 치환 은으로만 구성되어 있는 Ag@Cu-7000 는 열처리 실험에 의하여 급격하게 저항이 상승하는 현상을 나타내었 다. 반면에 치환 은의 함량이 3.5 wt% 이상이면서 환원 은을 포함하는 Ag@Cu-4030 및 -3535에서는 고온에서의 저항 상승이 Ag@Cu-7000 에 비교하면 명확하게 억제되는 것을 확인할 수 있다. 즉, 환원도금에 의하여 생성된 나노 크기의 은 입자가 Ag@Cu의 열적 안정성에 기여 하는 것으로 해석할 수 있다.
4. 결 론
구리 입자에 은을 코팅하는 과정에서 은의 함량을 7 wt%로 고정하 고 치환도금과 환원도금의 2가지 방식의 비가 다른 4종류의 Ag@Cu 를 제조하였다. 은으로 코팅된 것은 SEM-EDS, TGA, XPS 및 XRD 등의 분석에 의하여 확인할 수 있었으나, 치환/환원 코팅의 차이에 따 른 변화는 관찰할 수 없었다. 그러나 2가지 방법을 병행한 Ag@Cu의 SEM에서 입자 표면에 수십 나노미터의 은 입자들이 구리 표면에 나 타났으나, 치환방식으로만 은을 코팅한 Ag@Cu-7000에서는 나타나지 않았다. 즉, 환원반응에 의하여 코팅되는 은은 구리 입자 표면에 나노 입자 형태로 형성되는 것을 확인할 수 있었다. 또한, 나노입자 형태로 존재하는 환원 은의 상대적인 양이 늘어날수록 Ag@Cu 입자 전체의 표면적도 커지는 것을 BET의 측정으로 확인하였다.
Ag@Cu 입자의 열적 특성을 확인하기 위하여 에폭시 수지와의 복 합 필름을 제조하고, 260 °C에서 열처리 후에 저항을 측정하였다. 치 환 은의 함량이 가장 적은 Ag@Cu-3040의 경우 초기저항 뿐만 아니 라 열처리 후의 저항 값도 가장 높게 나왔다. 한편 치환 은의 함량이 3.5 wt% 이상인 Ag@Cu들의 초기 저항값은 실험 오차 이내에서 동일 하게 나타나, 치환 은의 함량이 3.5 wt%가 되면 구리 입자의 표면을 덮을 수 있다는 점을 시사한다. 그러나 치환 은으로만 구성되어 있는 Ag@Cu-7000는 열처리 후에 급격하게 저항이 상승하였다. 반면에 치환 은의 함량이 3.5 wt% 이상이면서 환원 은을 포함하는 Ag@Cu-4030 및 -3535에서는 열처리 실험에서 저항의 상승이 상대적으로 억제되는 것을 확인할 수 있었다. 결론적으로, 구리 입자의 표면을 코팅하기 위 해서 치환 은은 3.5 wt% 이상이 필요하며, 또한 환원 은의 함량이 높 을수록 열안정성이 향상되었다.